日本电子株式会社推出新型冷场发射低温电子显微镜

东京--(美国商业资讯)--日本电子株式会社(JEOL Ltd., TOKYO:6951)（总裁兼首席运营官：Izumi Oi）宣布将于2021年1月推出一款新型冷场发射低温电子显微镜（低温电镜）——CRYO ARM™300 II (JEM-3300)。该新型低温电镜基于“操作快捷简便，图像对比度和分辨率高”的理念开发而成。

开发背景

近来，使用低温电镜进行单颗粒分析(SPA)的图像分辨率明显提升，这使得单颗粒分析成为蛋白质结构分析的一种重要方法。为了应对这一市场需求，日本电子株式会社于2017年发布了CRYO ARM™300。CRYO ARM™ 300配有用于提高分辨率的冷场发射枪(Cold FEG)和用于装载多个样本的低温台，为单颗粒分析持续提供了同类产品最佳分辨率。

而在以往的低温电镜单颗粒分析中，样本筛选和图像数据采集是相互独立的操作流程，需要使用多台电子显微镜。这一问题使低温电镜用户需要负担巨大的运营成本。由于必须使用多台显微镜，低温电镜之间的低温样本转移存在着诸多不便。因此，用户需要一种能够完成从样本筛选到图像数据采集的整个工作流程的低温电镜。此外，为了让各类用户都能使用低温电镜，让新手和专业用户都能顺利操作显微镜，还需要提高显微镜的可用性。

为了满足这些要求，日本电子株式会社开发出一款新型低温电镜——CRYO ARM™300 II。与之前的CRYO ARM™ 300相比，这款显微镜可进行高质量的数据采集，操作快捷简便，在通量方面有大幅改进。

主要特点

1. 通过最佳电子束控制实现高速成像

2. 硬件稳定性得到提升，可进行高清图像采集

3. 系统升级后可操作性更高

销售量年度目标

10台/年

冷场发射低温电子显微镜CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)