JEOL：发布新的台式扫描电子显微镜

- 该台式扫描电子显微镜可实现从光学到SEM成像的无缝操作以及元素分析-
 
东京--(美国商业资讯)--JEOL Ltd. (TOKYO:6951) （总裁：Gon-emon Kurihara）宣布将于2019年3月发布新的台式扫描电子显微镜(SEM)，即JCM-7000系列NeoScope^TM。
 
  
产品开发背景
 
台式扫描电子显微镜广泛应用于各行各业，例如电气、电子、汽车、机械、化学和制药工业。此外，SEM应用不仅扩展到研究和开发，还可用于生产现场的质量控制和产品检测。因此，对于进一步提高工作效率，更快速和更简单的操作，以及更高分析和测量能力的需求正在增加。
 
我们在高度成功和屡获殊荣的InTouchScope^TM系列SEM的基础上，开发了一种新的台式扫描电子显微镜JCM-7000，以满足市场上日益增长的需求。JCM-7000系列具有可与InTouchScope^TM系列相媲美的创新功能。JCM-7000系列的特点包括：1) 简单易用的GUI提供高度可操作性，2) 占地面积小，3) 从光学显微镜成像无缝过渡到具有“Zeromag”功能的SEM成像，4) 图像观察期间的“实时分析”功能可提供实时元素分析，以及5) 双轴(X, Y)电动平台，运行平稳。
 
此外，JCM-7000还具有“实时3D”功能，可同时显示实时SEM图像和重建的实时3D表面图像。这项新功能还使您能够获取样本的形貌和深度信息，以及来自样本表面的SEM图像信息。
 
主要特点
 
1.    通过“Zeromag”功能，样本导航比以往任何时候都更容易。“Zeromag”将带有颜色信息的CCD图像与表面细节上的SEM图像相关联，使您能够快速定位成像和分析区域。
 
2.    它的2轴(X, Y)电动平台不仅可提高工作效率，还有助于轻松收集大型标本区域的蒙太奇图像。
 
3.    我们Analytical系列（“实时分析”功能）的嵌入式EDS系统在图像观察期间可显示实时EDS光谱，以便快速有效地进行元素分析。
 
4.    新的“实时3D”功能可让您同时观察实时SEM图像和重建的实时3D表面图像，同时获取形貌和深度信息。
 
年度单位销售目标
400台/年
 
JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japan
Gon-emon Kurihara，总裁兼法人代表
（股票代码：6951，东京证券交易所第一部）